关于AD采样的几个问题

[相wang于江湖]

请问模数转换后的数字量一定要经常校准吗？
如果不校准，是因为什么原因而得不到真实的数据？
听别人说是因为时间久了，采样芯片会老化，转换的数字量和以前不一样了？还是因为存在EEPROM里的以前的校准常数会因为时间久了而变化？
还有采样芯片的单端输入采样方式和差分输入采样方式有什么区别呢？

[worldy]

请问模数转换后的数字量一定要经常校准吗？ 根据芯片不同，性能也会有差别，但现在的技术一般都比较稳定，因此，随你过瘾吧 如果不校准，是因为什么原因而得不到真实的数据？ 主要是基准电压不准，干扰信号，地线引入干扰等 听别人说是因为时间久了，采样芯片会老化，转换的数字量和以前不一样了？还是因为存在EEPROM里的以前的校准常数会因为时间久了而变化？ EEPROM是不可能变化的，如果会变化，你的芯片可以丢进海里了，芯片老化主要还是基准的漂移吧，但应该影响不太大 还有采样芯片的单端输入采样方式和差分输入采样方式有什么区别呢？ 看你要测什么，单端的信号使用单端，双端输出的信号最好使用双端，但一般都是使用单端，因为可以AD转换的信号电平一般都比较大