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浅谈IC测试向量（pattern)及其转换 随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难，为了实现芯片的快速测试和筛选，ATE设备为其提供了强有力的支撑。ATE运用芯片设计仿真文件，将其作为芯片输入激励，通过ATE测试平台提供芯片测试环境，将芯片的输出和测试结果进行比较，以此来判定芯片的好坏。 说起IC测试，不得不说一下Pattern这个词，它中文的意思是模式。在图像处理中，这个词意思为图像的纹理特征，而在IC也即芯片测试行业，这个词实际上代表了需要测试芯片的时序特征。简单的说，在测 阅读详情
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