求助:用VC编播放WAV时出现的两个错误(error C2065: 'SND_ASYNC' ,error C2065: 'SND_NODEFAULT'

zhuifeng1 2004-04-08 01:48:15
代码节选:
//播放WAV文件
bool r=sndPlaySound("welcome.wav",SND_ASYNC|SND_NODEFAULT);
assert(r);
Sleep(4500);
r=sndPlaySound(" ",SND_ASYNC|SND_NODEFAULT);//停止播放



错误提示:
D:\MYPROJECTS\Splash1\MainFrm.cpp(83) : error C2065: 'SND_ASYNC' : undeclared identifier
D:\MYPROJECTS\Splash1\MainFrm.cpp(83) : error C2065: 'SND_NODEFAULT' : undeclared identifier
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zhuifeng1 2004-04-08
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我加了,也导入了啊。可是还是不行。
caitou123 2004-04-08
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要include < mmsystem.h>
导入 winmm.lib.
内容概要:文章围绕数据分析可视化实战项目在芯片行业中的应用,重点探讨了如何利用高维数据降维与可视化技术优化CP/FT测试流程、降低测试成本并监控关键参数漂移。通过PCA降维、相关性热力图、箱线图等方法,将数千维的芯片测试参数转化为可解读的二维或三维空间分布,识别异常聚类与工艺角偏移,并结合Python代码实现了从数据模拟、标准化、PCA降维到Plotly交互式3D可视化的完整流程。文章强调标准化在多量纲参数处理中的必要性,以及交互式可视化在工程决策中的价值,展望了其与数字孪生、AR技术融合的未来方向。; 适合人群:具备一定数据分析基础和Python程能力,从事半导体测试、良率分析、数智化转型的技术人员及工程师;高校微电子、集成电路相关专业研究生。; 使用场景及目标:①识别冗余测试项以缩短测试间、降低测试成本;②监控参数随间或批次的漂移趋势,提前发现潜在可靠性风险;③通过可视化手段理解高维测试数据中的工艺角分布与异常模式;④构建面向未来的智能测试分析系统原型。; 阅读建议:建议结合文中代码实例动手实践,重点关注数据标准化、PCA解释方差比、主成分物理含义解读等关键环节,并尝试扩展至其他降维方法(如t-SNE)或多维联动可视化,深化对芯片测试数据结构的理解。

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