19.1 CM迁移

ShuYunBIGDATA 2023-01-13 00:29:14

课时名称	课时知识点
19.1 CM迁移	1、CM迁移前数据的备份 2、CM迁移工作

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采用射频磁控溅射技术，室温下在PET柔性衬底上沉积不同厚度的掺锡氧化铟(ITO)薄膜，样品的结构、形貌和光电学性质分别用x射线衍射仪、原子力显微镜、分光光度计和Van der Pauw方法测量．实验结果表明：在其它参数不变的条件下，随着溅射时间的增加薄膜的厚度增大，而薄膜的颗粒大小和表面粗糙度也随之变大；方块电阻、电阻率随样品厚度的增加而减小，相应的迁移率减少，载流子浓度变大．当样品厚度为148 nm时，样品的方块电阻为26．5 Ω・□-1、迁移率为19．1 cm2・V-1・s-1、载流子浓度为8．43×

建的gitlab服务器，硬盘不太可靠，是一块不知名的mSATA硬盘，前面通过手动通过（xshell + xftp）的方式进行备份到其他电脑，这里通过 inotify+rsync 自动备份一下

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作者 | JiekeXu来源 |公众号 JiekeXu DBA之路（ID: JiekeXu_IT）如需转载请联系授权 |(个人微信 ID：JiekeXu_DBA)大家好，我是 JiekeXu,江湖人称“强哥”，青学会MOP技术社区联合创始人，荣获 Oracle ACE Pro 称号，墨天轮 MVP，墨天轮年度“墨力之星”，拥有 Oracle OCP/OCM 认证,MySQL 5.7/8.0 ...

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