Pulstec电源控制器维修X射线残余应力分析仪μ-X360s

[北京天浦正达维修朱工]

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。

 

相较于传统的X射线残余应力测定仪维修，μ-X360s具有以下特点：

二维探测器一次性采集获取完整德拜环，单角度一次入射即可完成测量。

一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合，结果更准。

无需测角仪，单角度一次入射即可，复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

无需液体冷却装置，支持便携电池供电。

 

具备区域应力测量功能，晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

准直器尺寸：           标配：直径1mm（其他尺寸可选）

X射线管参数            30KV  1.5mA

X射线管所用靶材      标配：铬靶（可选配其他）

是否需要冷却水        无需

是否需要测角仪        无需

X射线入射角度         单一入射角即可获取数据

所用探测器              二维探测器

直接测量参数           残余应力 衍射峰的半峰高全宽

测量时间                 约60秒钟

电源参数                130W功率 110-240V 50-60HZ

可否户外现场检测    设备便携、支持便携电池供电

Pulstec残余应力分析仪维修测试原理概述：

单角度一次入射后，利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力；施加应力后，分析单次入射前后德拜环的变化，即可通过分析软件获得残余应力数据。