基于MBIST的多片SRAM检测实现下载

weixin_39821746 2023-07-25 13:01:04

难得的SOC存储体检测设计说明书，可以多片SRAM共用一个MBIST控制器，完成存储体自检测、自诊断甚至自修复功能。 , 相关下载链接：https://download.csdn.net/download/lightfield/2463337?utm_source=bbsseo

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难得的SOC存储体检测设计说明书，可以多片SRAM共用一个MBIST控制器，完成存储体自检测、自诊断甚至自修复功能。

包含了一种Mbist新型算法March_3CL的设计_陈之超.caj 一种基于LFSR与MARCH_C_算法的SRAM内建自测电路设计_焦慧芳.caj 一种基于SRAM内建自测试的改进型March算法设计与验证_王振宇.caj 内建自测试march算法的优化研究_李大龙.caj 基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究_邓一峰.caj 基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究_徐金荣.caj 基于March_C_改进算法的MBIST设计_申志飞.caj 基于March_C_算法的MBIST设计_邓吉建.caj 基于March_C_算法的Memory_BIST设计与实现_翟明静.caj 基于March_C_算法的RAM内建自测试设计_刘兴辉.caj 基于March_C_算法的SRAM_BIST设计_张志超.caj 基于March_C_算法的单片机存储器测试_于文考.caj 基于March_C_算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真_翟明静.caj 基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证_郭明朝.caj 存储器测试算法研究与应用实现_汤志.caj 嵌入式SRAM内建自测试的测试实现_许正义.caj 改进型March算法在内存异常检测中的应用.pdf 改进型March算法在内存异常检测中的应用_曾慧.caj 片上SRAM内建自测试的实现方法_马琪.caj 静态随机存取存储器内建自测试电路的研究与设计_汪坤.caj

Mentor_mbist学习总结

simple SRAM controller based on AHB bus mbist

多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC O．13um工艺的OSD显示芯片为例，从覆盖率、面积、测试时间、功耗等方面分析了多片SRAM的MBIST设计，提出了一种可实现多片SRAM的快速高效可测试设计实现方法。

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