STM32 内存 walkpat 测试

[神引]

最近在做一些软件标准认证工作，需要对单片机非易失性内存（RAM）做内存测试，使用的方法是IEC 60730-1 H.2.19.7(walkpat memory test)。

基本原理是对每个地址内存写0x00000000，再读取出来，与数据0x00000000，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

对该地址写入0x00000001，再读取出来，与数据0x00000001，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

对该地址写入0x00000002，再读取出来，与数据0x00000002，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

对该地址写入0x00000004，再读取出来，与数据0x00000004，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

...

对每一位单独写1后，再读取判断，全部完成后，再反过来进行判断，即

对该地址写入0xffffffff，再读取出来，与数据0xffffffff，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

对该地址写入0xfffffffe，再读取出来，与数据0xfffffffe，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

对该地址写入0xfffffffd，再读取出来，与数据0xfffffffd，做对比，如果不相等代表内存故障，进入报警模式。

...

 

每一个32位的内存需要处理66次，考虑到该测试过程中对内存是具有破坏性的，所有把该测试工作放在中断等级最高的函数中执行。该函数的完成由汇编代码实现，这样可以防止使用C语言测试过程对本身内存的破坏（防止程序跑飞）。

汇编函数声明：

ErrorStatus STL_RAM_WALKPAT_32Bit(u32 *);

汇编函数的实现：

STL_RAM_WALKPAT_32Bit PROC
      EXPORT STL_RAM_WALKPAT_32Bit
    ；数据备份保存
    LDR R1,[R0]
    
    ; 
    MOV R2, #0x00000000
    STR R2,[R0]
    LDR R3,[R0]
    CMP R2, R3
    BNE.W FailSafePOR
    MOV R2, #0x00000001
    
RAMLoopStart1
    STR R2,[R0]
    LDR R3,[R0]
    CMP R2,R3
    BNE.W FailSafePOR
    LSL R2,#1
    CMP R2,#0
    BNE RAMLoopStart1

    MOV R2, #0xFFFFFFFF
    STR R2,[R0]
    LDR R3,[R0]
    CMP R2, R3
    BNE.W FailSafePOR
    MOV R2, #0x00000001
    
RAMLoopStart2
    MVN R3,R2
    STR R3,[R0]
    LDR R3,[R0]
    MVN R3,R3
    CMP R2,R3
    BNE.W FailSafePOR
    LSL R2,#1
    CMP R2,#0
    BNE RAMLoopStart2

    ;数据恢复
    STR R1,[R0]
    
    MOVS R0, #0x1       ; CPUTEST_SUCCESS
    BX LR               ; return to the caller
    ENDP

  END

该函数实现对一个32位内存的测试，全部内存测试的实现，需要根据需求自行设计。

以上内容为本人个人对标准的理解，如果有不对的和不足的地方欢迎大家指正。