【中文英文对照】 IEC 60749-44-2016第 44 部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验.rar下载

weixin_39820780 2023-10-28 08:31:37

【中文英文对照】 IEC 60749-44-2016第 44 部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验.rar , 相关下载链接：https://download.csdn.net/download/m0_67373485/88420480?utm_source=bbsseo

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该系列标准涵盖了半导体器件的环境适应性和可靠性，而本篇解读将专注于其中特别重要的一部分：IEC 60749-44-2016第44部分——半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验。在当今世界，半导体器件几乎渗透到所有...

半导体器件 机械和气候试验方法（英文） ———第 1 部分：总则; ———第 2 部分：低气压; ———第 3 部分：外部目检; ———第 4 部分：强加速稳态...———第 44 部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验

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