在J2EE环境中使用自适应测量
韩磊 2005-04-15 02:19:30 自适应测量是一种专利技术,用于在J2EE环境中保持较低的系统负载情况下,自动发现和隔离导致性能下降的主要问题。
本文回顾了传统的J2EE应用监控方法,并列举了诸多方法的弊病,以及自适应测量是如何解决这些问题的。
目录
关于自适应测量.............................................3
为什么使用自适应测量.......................................3
发现性能问题...............................................3
应该监测什么?.............................................4
过去是怎样找到最佳平衡点的?...............................4
用户测量...................................................4
旧方法的问题所在...........................................5
自适应方法.................................................5
怎么应用自适应测量?.......................................5
第一步-取得数据
第二步-分析数据
第三步-测量选定方法
过测保护...................................................6
怎样运行自适应测量?.......................................7
使用多个调查..............................................10
小结......................................................10
附录A:术语...............................................11
详细内容请访问http://61.135.128.150/veritas/detail.asp?NewsID=21