VERITAS Indepth for J2EE 自适应检测介绍

VERITAS_APM 2005-04-15 11:35:33

自适应检测是一种正在申请专利的技术，能够自动发现和隔离J2EE应用中的性能下降的主要根源，同时最大程度地降低开销。

本文回顾了监控J2EE应用的传统方法，列举了多种方法的相关问题，并对自适应检测如何解决上述问题进行了阐述。

本文完整内容，请参见：http://61.135.128.150/veritas/detail.asp?NewsID=14

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