NAND FLASH一半区域全坏块的奇怪问题

HZJMAN 2010-09-24 02:39:16
产品改用一款新的SAMSUNG NAND FLASH,该NAND FLASH总容量4GB,内部为两个CELL,每个CELL为2GB,但共享一个CE线,现在驱动跑起来后,发现前面2GB的坏块数为几个并且写入读出测试都没问题,但后面的2GB全为坏块,修改驱动和程序对后2GB的区域进行强制ERASE也不能成功。请问大家知道可能的原因么?
...全文
283 5 打赏 收藏 转发到动态 举报
AI 作业
写回复
用AI写文章
5 条回复
切换为时间正序
请发表友善的回复…
发表回复
HZJMAN 2010-12-06
  • 打赏
  • 举报
回复
谢谢各位
HZJMAN 2010-12-06
  • 打赏
  • 举报
回复
这个问题两个月前已经解决了,是最高地址线比较特殊的问题。
baojunling2008 2010-10-05
  • 打赏
  • 举报
回复
[Quote=引用 1 楼 veabol 的回复:]
多测试几个芯片,如果其它芯片也同样的情况可能是你的读写代码有问题,否则就可能是硬件或者是FLASH是假片的问题
[/Quote]顶起~~~~~
codesnail 2010-09-26
  • 打赏
  • 举报
回复
这种情况应该不是片子的问题,建议重点检测最高位的地址线看是不是有问题。
博说医械研发 2010-09-24
  • 打赏
  • 举报
回复
多测试几个芯片,如果其它芯片也同样的情况可能是你的读写代码有问题,否则就可能是硬件或者是FLASH是假片的问题

21,616

社区成员

发帖
与我相关
我的任务
社区描述
硬件/嵌入开发 驱动开发/核心开发
社区管理员
  • 驱动开发/核心开发社区
加入社区
  • 近7日
  • 近30日
  • 至今
社区公告
暂无公告

试试用AI创作助手写篇文章吧