自容TP整机rawdata测试的方案可行性

[cheng_hu]

各位大佬好：

本人为一位TP从业人员，目前手机客户端要求越来越高，自容项目整机也导入rawdata测试， 导致很大部分TP都被打出来，大部分TP整机划线MMI测试没问题的，只是rawdata数值测不过。

据我了解，自容项目抗干扰能力较差，dawdata数值容易被外在因素所影响，这是一方面原因。

另一方面原因，也就是TP硬件本身，TP成本现在管控也很严格，国产ITO膜觉得还是不稳定，rawdata数值这项测试来说，很容易出现测试不良，但其实对于整机划线来说，对于用户使用来说，其实不是很大问题，如卡得太死，品质过剩，这对于TP来说成本太大了。

说了这么多，发这个帖的目的，是想请教下懂这方面的大佬，具体详细描述一下，我需制作《自容TP整机rawdata测试的方案可行性》给手机客户端，去说服客户取消这项整机rawdata测试，还是以划线测试为准，帮帮忙，谢谢了。



来自一个TP小弟的问题