功耗分析的时候，波形剧增，可能是什么原因导致的？

非常不一般 2022-11-30 09:53:32

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weixin_38498942 2022-12-01

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硬件漏电，可以拔掉硬件继续观察；传感器反应，可以通过刺激传感器的方式判断是否是其在作用，判断出就是该传感器产生的干扰，尽量注意不去刺激传感器或者直接移除传感器；由于某些原因ap侧停止休眠，可以查看串口log是否恢复工作，如果串口log打印级别够的话可以从log分析终止休眠的原因

实际上datasheet上面会给出推荐的电感大小:根据流过电感的电流波形进行判断电感是大还是小：BUCK电路中电感的选型：1. 电感饱和饱和现象：电感的磁芯在一定电流下会达到饱和状态，导致电感的感抗降低。这意味着电感无法继续储存更多的能量，电流将不再随电压增加而增加。 -感抗降低：饱和后，电感的有效感抗显著下降，导致电流的增加更加迅速，可能引发电流剧增。 2. 过热功耗增加：在饱和状态下，电感的损耗会增加，可能导致电感发热，尤其是在高频应用中。过热可能会损坏电感的绝缘材料，导致短路或电感失效。 TVS

查看是否休眠 adb root adb shell cat /sys/power/system_sleep/stats > stats00.txt adb shell cat /sys/power/rpmh_stats/master_stats > master_stats00.txt 移除usb,待机3分钟后，插入USB adb shell cat /sys/power/system_sleep/stats > stats11.txt adb shell cat /sys/power/r

LDO在短路时进入限流模式，功耗 ( P = (V_{in} - V_{out}) \times I_{limit} )，若 ( V_{out} \approx 0 )，功耗 ( P = V_{in} \times I_{limit} )；：实际运放的电流噪声占主导，噪声公式变为 ( V_n = \sqrt{(4kTR + I_n^2 R^2)B} )，当 ( I_n^2 R \gg 4kT )，增大R会导致 ( I_n^2 R^2 ) 项主导，但若同时降低带宽B（如增加电容），可能整体噪声下降。

目录 1.挖掘目标 2.分析方法与过程 2.1 问题 1 分析方法与过程 2.1.1 单个设备运行特征 2.1.2 实时用电量计算 2.2 问题 2 分析方法与过程 2.2.1 流程图 2.2.2 基于 SVM 的多分类判别模型 2.2.3 基于最近邻的判别模型 2.2.4 电流电压轨迹图可视化验证 2.3 问题 3 分析方法与过程 2.3.1 流程图 2.3.2 设备类型分类 2.3.3 不同运行状态下设备运行电流特征 2.3,4 运用线性组合思想对设备组进行分析 2.4 问题 4 分析方法与过程 2.4

笔者最近设计了一块xilinx xc6slx9-2TQG144的单板，出于是学生党实力有限。就选择在**创打样，*宝购买fpga和ADI 的AD9708 DA芯片。上板后发现有以下异常： fpga下载bit文件时，有时会出现fail的问题。程序中的复位信号不起作用。 AD9708芯片刚上电几分钟就发热惊人，用手无法触摸。笔者为了排除以上异常，采用以下措施：测输出：先用示波器查看DA芯片输出波形，发现BNC端正弦波噪声较大，幅值在电位器大量程下任然微弱。正弦波是fpga的dds生成的。分析AD9708

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