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高通开发平台上的调试接口主要包括以下几种:
JTAG(Joint Test Action Group)接口:用于硬件级别的调试和测试,可以通过该接口与芯片进行直接通信。
QDART(Qualcomm Development Acceleration Resource Toolkit)接口:提供了一套用于调试和性能分析的工具和API,可用于监视和控制设备的各个方面。
QPST(Qualcomm Product Support Tools)接口:用于高通芯片的软件开发和调试,支持诸如刷写固件、读取设备信息、调试模式设置等功能。
QXDM(Qualcomm eXtensible Diagnostic Monitor)接口:用于收集和分析设备的诊断数据,包括网络信息、传感器数据、日志等。
QCAT(Qualcomm Advanced Tool)接口:用于分析和解码设备生成的日志文件,以便进行问题排查和性能优化。