芯片产品测试效果不一致问题

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24G毫米波262模块的人存测试情况如下：
  a.毫米波模块全部重新写入高性能模式固件，触发距离设为1米，写入成功；
  b.测试过程发现部分模块在人来和人去过程中反应迅速，1秒左右，正确反应触发区域内人存状态；
  c.还有一部分模块在人来时反应迅速，但在人去后反应迟钝，延时时间从几秒到几十秒不等；
  d.还发现一块在人去后，一直报人存，最少1分钟以内没有变化；
  e.两种情况的比例差不多各占一半，具体数据下一批可以详细统计；
.需要提供支持的几个方面：
  a.上述测试结果感觉毫米波模块有个体差异的情况，即一致性有问题；
  b.是否在测试的过程中是否有发现这样的情况，如何改善一致性问题；
  b.在出货前是否有相关的测试；
  c.测试方法能否提供，我们在生产过程加入测试；

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请问用的软件资料版本号是什么？
使用时的具体配置是怎样的？请把完整的配置界面截图出来。
有没有采用环境学习？